本申請(qǐng)涉及存儲(chǔ)檢測(cè)領(lǐng)域，特別是涉及一種存儲(chǔ)裝置檢測(cè)方法、測(cè)試主機(jī)、存儲(chǔ)裝置以及測(cè)試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
1、在存儲(chǔ)裝置的研發(fā)過(guò)程中，當(dāng)出現(xiàn)讀寫(xiě)擦操作失敗時(shí)，由于通路太長(zhǎng)，不確定的因素過(guò)多，不能及時(shí)的定位出問(wèn)題所在。如果有時(shí)僅是nand本身的問(wèn)題的話，花費(fèi)時(shí)間去定位其他位置是否出現(xiàn)異常就會(huì)增加時(shí)間成本。而通常對(duì)于nand進(jìn)行檢測(cè)的話需要固件首先打通讀寫(xiě)路徑，才能實(shí)現(xiàn)對(duì)nand的操作，對(duì)nand特性進(jìn)行研究，判定是否異常。而在研發(fā)過(guò)程中，在更換存儲(chǔ)裝置控制器，或者nand初期，或者是固件加載不完全或加載錯(cuò)誤等情況下，無(wú)法通過(guò)固件來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)nand的操作，不能及時(shí)實(shí)現(xiàn)對(duì)nand異常的判定。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本申請(qǐng)主要目的是提供一種存儲(chǔ)裝置檢測(cè)方法、測(cè)試主機(jī)、存儲(chǔ)裝置以及測(cè)試系統(tǒng)，能夠及時(shí)對(duì)nand進(jìn)行異常檢測(cè)。
2、為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本申請(qǐng)采用的第一個(gè)技術(shù)方案是：提供一種存儲(chǔ)裝置檢測(cè)方法。該方法應(yīng)用于主機(jī)，該方法包括響應(yīng)于對(duì)存儲(chǔ)裝置的讀寫(xiě)擦除操作失敗，向存儲(chǔ)裝置發(fā)送控制命令，以使存儲(chǔ)裝置利用閃存通道控制器對(duì)控制命令進(jìn)行解析以實(shí)現(xiàn)對(duì)存儲(chǔ)裝置中存儲(chǔ)單元的讀寫(xiě)操作，并向主機(jī)發(fā)送讀寫(xiě)結(jié)果；基于讀寫(xiě)結(jié)果獲取對(duì)于存儲(chǔ)裝置的存儲(chǔ)單元的檢測(cè)結(jié)果。
3、為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本申請(qǐng)采用的第二個(gè)技術(shù)方案是：提供一種存儲(chǔ)裝置檢測(cè)方法。該方法應(yīng)用于存儲(chǔ)裝置，該存儲(chǔ)裝置包括閃存通道控制器以及存儲(chǔ)單元，該方法包括利用閃存通道控制器接收控制命令，控制命令是主機(jī)響應(yīng)于對(duì)存儲(chǔ)裝置的讀寫(xiě)擦除操作失敗而向存儲(chǔ)裝置發(fā)送的；利用閃存通道控制器基于預(yù)設(shè)命令解析包對(duì)控制命令進(jìn)行解析；利用閃存通道控制器基于解析后的控制命令對(duì)存儲(chǔ)單元進(jìn)行讀寫(xiě)操作。
4、為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本申請(qǐng)采用的第三個(gè)技術(shù)方案是：提供一種存儲(chǔ)裝置檢測(cè)方法，該方法應(yīng)用于測(cè)試系統(tǒng)，該測(cè)試系統(tǒng)包括主機(jī)和測(cè)試接口，主機(jī)通過(guò)測(cè)試接口與待測(cè)存儲(chǔ)裝置連接，待測(cè)存儲(chǔ)裝置包括閃存通道控制器以及存儲(chǔ)單元。該方法包括響應(yīng)于對(duì)存儲(chǔ)裝置的讀寫(xiě)擦除操作失敗，主機(jī)向存儲(chǔ)單元發(fā)送控制命令；待測(cè)存儲(chǔ)裝置利用閃存通道控制器接收控制命令；待測(cè)存儲(chǔ)裝置利用閃存通道控制器基于預(yù)設(shè)命令解析包對(duì)控制命令進(jìn)行解析；待測(cè)存儲(chǔ)裝置利用閃存通道控制器基于解析后的控制命令對(duì)存儲(chǔ)單元進(jìn)行讀寫(xiě)操作，以獲取讀寫(xiě)結(jié)果；待測(cè)存儲(chǔ)裝置向主機(jī)發(fā)送讀寫(xiě)結(jié)果；主機(jī)基于讀寫(xiě)結(jié)果獲取對(duì)于存儲(chǔ)裝置的存儲(chǔ)單元的檢測(cè)結(jié)果。
5、為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本申請(qǐng)采用的第四個(gè)技術(shù)方案是：提供一種測(cè)試主機(jī)。該主機(jī)包括存儲(chǔ)器和處理器，存儲(chǔ)器用于存儲(chǔ)程序數(shù)據(jù)，程序數(shù)據(jù)能夠被處理器執(zhí)行，以實(shí)現(xiàn)如第一個(gè)技術(shù)方案中所述的方法。
6、為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本申請(qǐng)采用的第五個(gè)技術(shù)方案是：提供一種存儲(chǔ)裝置，該存儲(chǔ)裝置包括閃存通道控制器以及存儲(chǔ)單元，閃存通道控制器與存儲(chǔ)單元連接以實(shí)現(xiàn)如第二個(gè)技術(shù)方案中所述的方法。
7、為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本申請(qǐng)采用的第六個(gè)技術(shù)方案是：提供一種測(cè)試系統(tǒng)，該測(cè)試系統(tǒng)包括主機(jī)和測(cè)試接口，主機(jī)通過(guò)測(cè)試接口連接待測(cè)存儲(chǔ)裝置，待測(cè)存儲(chǔ)裝置包括閃存通道控制器以及存儲(chǔ)單元，主機(jī)與待測(cè)存儲(chǔ)裝置通信連接以實(shí)現(xiàn)第三個(gè)技術(shù)方案中所述的方法。
8、本申請(qǐng)的有益效果是：當(dāng)對(duì)存儲(chǔ)裝置的讀寫(xiě)擦除操作失敗時(shí)，向存儲(chǔ)裝置發(fā)送控制命令以使得存儲(chǔ)裝置能夠利用閃存通道控制器對(duì)控制命令進(jìn)行解析，存儲(chǔ)裝置基于對(duì)控制命令的解析完成讀寫(xiě)操作。不通過(guò)固件，而是利用閃存通道控制器來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)于存儲(chǔ)裝置的讀寫(xiě)操作，使得對(duì)于存儲(chǔ)裝置的檢測(cè)不再依賴(lài)固件，能夠在固件出現(xiàn)問(wèn)題時(shí)完成對(duì)于存儲(chǔ)裝置的檢測(cè)，提高問(wèn)題定位的效率，減少時(shí)間成本。
1.一種存儲(chǔ)裝置檢測(cè)方法，其特征在于，應(yīng)用于主機(jī)，所述方法包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述主機(jī)包括預(yù)設(shè)緩存區(qū)，所述向所述存儲(chǔ)裝置發(fā)送控制命令，包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述預(yù)設(shè)緩存區(qū)包括第一緩存區(qū)、第二緩存區(qū)、所述第一緩存區(qū)用于存儲(chǔ)所述控制命令，所述第二緩存區(qū)用于存儲(chǔ)待寫(xiě)入數(shù)據(jù)和/或讀取數(shù)據(jù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述預(yù)設(shè)緩存區(qū)還包括第三緩存區(qū)，所述第三緩存區(qū)用于存儲(chǔ)數(shù)據(jù)屬性信息。
5.一種存儲(chǔ)裝置檢測(cè)方法，其特征在于，應(yīng)用于存儲(chǔ)裝置，所述存儲(chǔ)裝置包括閃存通道控制器以及存儲(chǔ)單元，所述控制方法包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述利用所述閃存通道控制器基于預(yù)設(shè)命令解析包對(duì)所述控制命令進(jìn)行解析，包括：
7.一種存儲(chǔ)裝置檢測(cè)方法，其特征在于，應(yīng)用于測(cè)試系統(tǒng)，所述測(cè)試系統(tǒng)包括主機(jī)和測(cè)試接口，所述主機(jī)通過(guò)所述測(cè)試接口與待測(cè)存儲(chǔ)裝置連接，所述待測(cè)存儲(chǔ)裝置包括閃存通道控制器以及存儲(chǔ)單元，所述方法包括：
8.一種測(cè)試主機(jī)，其特征在于，包括存儲(chǔ)器和處理器，所述存儲(chǔ)器用于存儲(chǔ)程序數(shù)據(jù)，所述程序數(shù)據(jù)能夠被所述處理器執(zhí)行，以實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-4中任一項(xiàng)所述的方法。
9.一種存儲(chǔ)裝置，其特征在于，所述存儲(chǔ)裝置包括閃存通道控制器以及存儲(chǔ)單元，所述閃存通道控制器與所述存儲(chǔ)單元連接以實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求5-6中任一項(xiàng)所述的方法。
10.一種測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述測(cè)試系統(tǒng)包括主機(jī)和測(cè)試接口，所述主機(jī)通過(guò)測(cè)試接口連接待測(cè)存儲(chǔ)裝置，所述待測(cè)存儲(chǔ)裝置包括閃存通道控制器以及存儲(chǔ)單元，所述主機(jī)與所述待測(cè)存儲(chǔ)裝置通信連接以實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求7所述的方法。